Главная Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


КНИГИ - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:СТАТЬИ (8)Диссертации (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 25
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-25 
1.
   Пр350
   1982


    Академия наук СССР. Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова.
    Современная электронная микроскопия в исследовании вещества : сб. статей / Академия наук СССР. Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова. - М. : Наука, 1982. - 285 с. : ил. - Б. ц.
УДК
Рубрики: Труды институтов--испытание материалов

Свободных экз. нет
Найти похожие
2.
   537.8
   Ш61


    Шиммель Г.
    Методика электронной микроскопии : пер. с нем. / Шиммель Г. - М. : Мир, 1972. - 300 с. - Б. ц.
УДК
Рубрики: Физика--Электричество. Магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
микроскопия электронная

Свободных экз. нет
Найти похожие
3.
   539
   М98


    Мюллер Э.В.
    Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация и полевое испарение : пер. с англ. О.Л.Толубаева, В.Г.Павлова / Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. - М. : Наука, 1980. - 220 с. : ил. - Б. ц.
УДК


Доп.точки доступа:
Цонг Т.Т.
Свободных экз. нет
Найти похожие
4.
   669
   Э62


    Энгель Л.
    Растровая электронная микроскопия. Разрушение : справочник / Энгель Л., Клингеле Г. - М. : Металлургия, 1986. - 230 с. - Б. ц.
УДК
Рубрики: Металлургия
Кл.слова (ненормированные):
металлы -- электронная микроскопия -- микроскопия -- справочник


Доп.точки доступа:
Клингеле Г.
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Найти похожие
5.
   669.01
   Л72


    Лозинский М.Г.
    Тепловая микроскопия материалов / Лозинский М.Г. - М. : Металлургия, 1976. - 304 с. - Б. ц.
УДК
Рубрики: Металлургия--металловедение

Свободных экз. нет
Найти похожие
6.
   б 28
   Т34


    Теппер, Е. З.
    Практикум по микробиологии : учебное пособие [для вузов по спец. "Микробиология" биолог. спец.] / Е. З. Теппер, В. К. Шильникова, Г. И. Переверзева ; ред. В. К. Шильникова. - 5-е изд., перераб. и доп. - М. : Дрофа, 2004. - 256 с. - (Высшее образование). - ISBN 5710774375 : 540.00; 580.00 р.
ББК 28.4я73
Рубрики: Биология
Кл.слова (ненормированные):
биология -- микробиология -- практикум -- микроскопия -- микроорганизмы -- почва -- посевы -- клетка -- бактерии -- актиномицеты -- нокардии -- микобактерии -- грибы -- анализ почвы -- микробиоценозы -- активность почвы -- корма -- микробиология кормов


Доп.точки доступа:
Шильникова, В. К.; Переверзева, Г. И.; Шильникова, В. К. \ред.\
Экземпляры всего: 49
ЧЗ (5), АБ (44)
Свободны: ЧЗ (5), АБ (44)
Найти похожие
7.
   б 28.8
   А28


   Ажаев, С. А.

    Гистология: 4 бөлiмдi : мед. жоғары оқу орындарының студ. арналған оқу құралы / С. А. Ажаев. - Кентау : Еркiн и К-XXI.
   1-бөлiм : Цитология және адам эмбриологиясы / С. А. Ажаев. - 2004. - 200 б. - ISBN 9965450358 : 707.00 р.
ББК 28.86я73
Рубрики: Биология
Кл.слова (ненормированные):
гистология -- цитология -- эмбриология -- микроскопия -- жасуша -- плазма -- цитоплазма -- онтогенез -- ұрықтану -- гаструляция -- гистогенез -- органогенез -- эмбриогенез

Экземпляры всего: 15
ЧЗ (5), АБ (10)
Свободны: ЧЗ (5), АБ (10)
Найти похожие
8.
   б 28
   У35


    Уикли, Б.
    Электронная микроскопия для начинающих / Уикли, Б. - М. : Мир, 1975. - 324 с. - 10.00 р.
ББК 28с
Рубрики: Биология
Кл.слова (ненормированные):
ил05 -- биология -- электронная микроскопия -- ткань -- срез -- фотолабораторные работы -- ультраструктура -- радиоавтография

Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Найти похожие
9.
   539.2
   Ф50


    Физика твердого тела : лаб. практикум / под ред. А. Ф. Хохлова. - Изд. 2-е, испр. - М. : Высшая школа.
   Т. 1 : Методы получения твердых тел и исследования их структур. - 2001. - 364 с. - ISBN 5060040216 : 446.00 тг.
УДК
Рубрики: Физика
Кл.слова (ненормированные):
физика -- твердые тела -- изучение -- кристалл -- получение -- микроскопия -- рентгенография -- практикум


Доп.точки доступа:
Хохлов, А. Ф. \ред.\
Экземпляры всего: 10
ЧЗ (2), АБ (8)
Свободны: ЧЗ (2), АБ (8)
Найти похожие
10.
   б 28
   Н80


    Нолтинг, Б.
    Новейшие методы исследования биосистем / Нолтинг, Б. - М. : Техносфера, 2005. - 254 с. - (Мир биологии и медицины). - ISBN 94836044X : 1394.00 р.
ББК 28.071
Рубрики: Биология--биофизика
Кл.слова (ненормированные):
биология -- биофизика -- биосистемы -- белки -- структура белков -- ионообменная хроматография -- масс-спектрометрия -- рентгеноструктурный анализ -- инфракрасная спектроскопия белков -- электронная микроскопия -- биофизические нанотехнологии -- анализ белков -- монография

Экземпляры всего: 4
ЧЗ (2), АБ (2)
Свободны: ЧЗ (2), АБ (2)
Найти похожие
11.
   544
   Ф50


   
    Физическая химия. Принципы и применение в биологических науках / Тиноко, И.Зауэр, К. [и др.] ; ред. Горшков, В. И. - М. : Техносфера, 2005. - 743 с. - (Мир химии). - ISBN 5948360369 : 3955.00 р.
УДК
Рубрики: Химия--физическая химия
Кл.слова (ненормированные):
химия -- физическая химия -- биологические науки -- молекулярная биология -- биохимия -- термодинамика -- коллоидная химия -- кинетика -- спектроскопические методы -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- биофизика


Доп.точки доступа:
Тиноко, И.; Зауэр, К.; Вэнг, Дж.; Паглиси, Дж.; Горшков, В. И. \ред.\
Экземпляры всего: 5
ЧЗ (2), АБ (3)
Свободны: ЧЗ (2), АБ (3)
Найти похожие
12.
   б 28
   Б19


    Бакулина, Н. А.
    Микробиология : учебник для мед. уч-щ / Н. А. Бакулина, Краева, Э. Л. - М. : Медицина, 1976. - 424 с. - 5.00 р.
ББК 28.4я723
Рубрики: Биология--Микробиология
Кл.слова (ненормированные):
микроорганизмы -- инфекции -- иммунитет -- санитарно-бактериологические исследования -- электронная микроскопия -- бактериофаги -- антибиотики -- патогенные бактерии -- спирохеты -- грибки -- вирусные инфекции


Доп.точки доступа:
Краева, Э. Л.
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Найти похожие
13.
   620.1
   Б87


    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для обуч. по направл. подготовки "Прикладная математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. П. Баженов. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-018-0 : 1865.00 р., 1825.00 р., 780.00 р.
УДК
Рубрики: Техника--Испытания материалов
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура материалов -- исследование -- контроль -- материаловедение -- рентгеновские методы анализа -- оптическая микроскопия -- микроанализы -- нанотехнологии


Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С. П. \пер.\
Экземпляры всего: 17
ЧЗ (2), МФ (2), КОЛЛЕДЖ (1), АБ (12)
Свободны: ЧЗ (2), МФ (2), КОЛЛЕДЖ (1), АБ (12)
Найти похожие
14.
   621.38
   М42


    Медведев, А.
    Технология производства печатных плат / Медведев, А. - М. : Техносфера, 2005. - 356 с. - (Мир электроники). - ISBN 5948360520 : 1455.00 р.
УДК
Рубрики: Электроника--печатные схемы
Кл.слова (ненормированные):
н07 -- электроника -- печатные платы -- производство -- прессование -- сверление -- штамповка -- гетерогенные процессы -- никелирование -- металлизация -- электролиты -- финишные покрытия -- очистка поверхности -- ультразвук -- диэлектрики -- сопротивление -- изоляция -- тестирование -- микроскопия

Экземпляры всего: 4
ЧЗ (1), АБ (3)
Свободны: ЧЗ (1), АБ (3)
Найти похожие
15.
   621.38
   М25


    Марголин, В. И.
    Физические основы микроэлектроники : учебник для вузов / В. И. Марголин, В. А. Жабрев, В. А. Тупик. - М. : Академия, 2008. - 399 с. - (Высшее профессиональное образование). - ISBN 9785769542275 : 4095.00 р., 3383.00 р.
УДК
Рубрики: Электротехника--Электроника
Кл.слова (ненормированные):
электротехника -- электроника -- микроэлектроника -- нанотехнологии -- квантовая механика -- энергия связи -- фрактальная геометрия -- полупроводники -- напыление -- амфорные пленки -- дисперсные системы -- резисты -- рентгеновская литография -- электронная микроскопия


Доп.точки доступа:
Жабрев, В. А.; Тупик, В. А.
Экземпляры всего: 31
ЧЗ (2), АБ (29)
Свободны: ЧЗ (2), АБ (29)
Найти похожие
16.
   537
   С38


    Синдо, Д.
    Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Синдо, Д., Оикава, Т. - М. : Техносфера, 2006. - 249 с. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5948360644 : 435.00 р.
УДК
Рубрики: Физика
   Электроника

Кл.слова (ненормированные):
физика -- электронная микроскопия -- микроскопы -- электроны -- рентгеновская спектроскопия -- приставки к электронным микроскопам


Доп.точки доступа:
Оикава, Т.
Экземпляры всего: 2
ЧЗ (1), АБ (1)
Свободны: ЧЗ (1), АБ (1)
Найти похожие
17.
   б 28
   Е41


    Ежов, Г. И.
    Руководство к практическим занятиям по сельскохозяйственной микробиологии : учеб. пособие для с.-х. вузов по агр. спец. / Ежов, Г. И. - Изд. 2-е, перераб. и доп. - М. : Высшая школа, 1981. - 271 с. - 5.00 р.
ББК 28.4я73
Рубрики: Биология--Микробиология
Кл.слова (ненормированные):
биология -- микробиология -- микроорганизмы -- физиология -- бактериальные аппараты -- почвенные микроорганизмы -- иммунология -- микроскопия

Экземпляры всего: 1
АБ (1)
Свободны: АБ (1)
Найти похожие
18.
   б 67
   Т18


    Тапалова, Р. Б.
    Методы электронной микроскопии в судебной экспертизе : учебное пособие / Р. Б. Тапалова. - Алматы : Қазақ ун-тi, 2008. - 136 с. - ISBN 9965-30-545-5 : 820.00 тг.
ББК 67.5я73
Рубрики: Право--Судебная экспертиза
Кл.слова (ненормированные):
право -- судебная экспертиза -- электронная микроскопия -- морфологический анализ объектов -- уголовные дела -- объекты экспертизы

Экземпляры всего: 3
ЧЗ (3)
Свободны: ЧЗ (3)
Найти похожие
19.
   55
   Р49


    Рид, С. Дж. Б.
    Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / С. Дж. Б. Рид ; пер.: Д. Б. Петров, И. М. Романенко, В. А. Ревенко. - М. : Техносфера, 2008. - 232 с. - (Мир наук о Земле). - ISBN 978-5-94836-177-2 : 4450.00 р.
УДК
Рубрики: Геология
Кл.слова (ненормированные):
дистанционное зондирование -- электромагнитное излучение -- сенсоры -- космические снимки -- дешифрование снимков -- обработка цифровых снимков -- географические информационные системы -- пространственные данные -- применение ГИС


Доп.точки доступа:
Петров, Д. Б. \пер.\; Романенко, И. М. \пер.\; Ревенко, В. А. \пер.\
Экземпляры всего: 2
ЧЗ (2)
Свободны: ЧЗ (2)
Найти похожие
20.
   620
   Г61


    Головин, Ю. И.
    Основы нанотехнологий / Ю. И. Головин. - М. : Машиностроение, 2012. - 653 с. - ISBN 978-5-94275-662-8 : 8400.00 р.
УДК
Рубрики: Техника--Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- наночастицы -- наносистемы -- атомно-молекулярная структура -- электронная структура -- наномасштабные твердые тела -- внутренние поверхности в наноструктурах -- свободные поверхности в наноструктурах -- нанометрология -- наномасштабные измерения -- микроскопия -- дифракционный анализ -- спектральные методы -- единичные низкоразмерные объекты -- нанотехнологии -- нанопродукты -- наноэлектроника -- микросистемная техника -- нанобиотехнологии -- наномедицина

Экземпляры всего: 2
ЧЗ (2)
Свободны: ЧЗ (2)
Найти похожие
 1-20    21-25 
 
© Павлодарский государственный университет им. С.Торайгырова, 2009-2015