Главная Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


СТАТЬИ - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=эллипсометрический<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Матвеев, В. И.
    Измерение толщины тонких металлических и диэлектрических покрытий / В. И. Матвеев, В. Г. Фирстов // Мир измерений. - 2005. - N8. - С. 16-21.
Рубрики: Метрология
Кл.слова (ненормированные):
измерение -- толщина -- покрытие металлическое -- метрология -- диэлектрическое покрытие -- контроль неразрушающий -- методы -- амплитудный -- эллипсометрический -- автодинный -- импедансный -- резонансный -- интерференционный

Держатели документа:
чзп

Доп.точки доступа:
Фирстов, В. Г.

Найти похожие
2.


    Матвеев, В. И.
    Измерение шероховатости поверхности / В. И. Матвеев // Мир измерений. - 2005. - N8. - С. 22-25.
Рубрики: Метрология
Кл.слова (ненормированные):
измерение -- поверхность -- шероховатость -- метрология -- деталь -- прибор -- контроль неразрушающий -- методы -- амплитудный -- эллипсометрический -- автодинный -- импедансный -- резонансный -- интерференционный

Держатели документа:
чзп

Найти похожие
 
© Павлодарский государственный университет им. С.Торайгырова, 2009-2015