Главная Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


КНИГИ - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=620.18(075.8)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
   620.1
   Б90


    Бублик, В. Т.
    Сборник задач и упражнений по курсу "Методы исследования структуры" : [учеб. пособие для вузов по спец. "Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники", "Микроэлектроника и полупроводниковые приборы] / Бублик, В. Т., Дубровина, А-А. Н. - М. : Высшая школа, 1988. - 190 с. : ил. - ISBN 506001309Х : 00.50к. р.
УДК
Рубрики: Техника--Испытания материалов
Кл.слова (ненормированные):
испытание материалов -- металлы -- структура -- задачи -- полупроводники -- 09


Доп.точки доступа:
Дубровина, А-А. Н.
Экземпляры всего: 3
ЧЗ (3)
Свободны: ЧЗ (3)
Найти похожие
2.
   620.1
   Д43


    Дзидзигури, Э. Л.
    Ультрадисперсные среды. Методы рентгеновской дифрактометрии для исследования наноматериалов : учебное пособие / Э. Л. Дзидзигури, Е. Н. Сидорова. - М. : Учеба, 2007. - 60 с. - 725.00 р.
УДК
Рубрики: Техника--Испытания материалов
Кл.слова (ненормированные):
наноматериалы -- качественный фазовый анализ -- количественное содержание фаз -- твердый раствор в наноматериале -- средний размер ОКР -- микроискажения -- рентгеновская дифрактометрия


Доп.точки доступа:
Сидорова, Е. Н.
Экземпляры всего: 2
МФ (2)
Свободны: МФ (2)
Найти похожие
 
© Павлодарский государственный университет им. С.Торайгырова, 2009-2015