658.56
   А64


    Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению: справочник. - М. : ВНИИ электростандарт, 1983 - .
   Кн. 2; Ч. 5. - 335 с. - Б. ц.
УДК
Рубрики: Организация производства--контроль качества
Кл.слова (ненормированные):
контроль качества -- анализ отказов -- технологические операции -- интегральные микросхемы -- полупроводниковые приборы -- виды отказов -- причины -- устранение -- справочник -- 07

Экземпляры всего: 2
АБ (2)
Свободны: АБ (2)

   658.56
   А64


    Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : методы, методики, средства контроля и анализа отказов: справочник. - М. : ВНИИ Электростандарт, 1983 - .
   Кн. 1; Ч. 1-4. / !o200f.pft: FILE NOT FOUND! . - 506 с. - Б. ц.
УДК
Рубрики: Организация производства--контроль качества
Кл.слова (ненормированные):
контроль качества -- анализ отказов -- технологические операции -- интегральные микросхемы -- полупроводниковые приборы -- средства контроля -- справочник

Экземпляры всего: 2
АБ (2)
Свободны: АБ (2)